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    當前位置:首頁產品中心高分辨率X射線成像系統Skyscan1272X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構

    X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構
    產品簡介

    X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272 是一臺具有革新意義的高分辨率三維 X 射線成像系統。單次掃描可獲得多達2000 張,每張大小為 209M(14450 x 14450 像素)的超清無損切片,用于之后高分辨三維重建。通過*的相襯增強技術,SkyScan1272 對樣品的細節檢測能力(分辨率)高達 350 納米。

    產品型號:Skyscan1272
    更新時間:2025-02-11
    廠商性質:代理商
    訪問量:2177
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    X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272 是一臺具有革新意義的高分辨率三維 X 射線成像系統。單次掃描可獲得多達 2000 張,每張大小為 209M(14450 x 14450 像素)的超清無損切片,用于之后高分辨三維重建。通過*的相襯增強技術,SkyScan1272 對樣品的細節檢測能力(分辨率)高達 350 納米。

     

     

    X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272的具體設備參數如下:

    ?設備參數

    • 圖像分辨率(Pixel Size):350nm
    • 空間分辨率:4µm
    • 20-100kV 新式X射線源,免維護
    • 樣品尺寸:直徑達75mm,長達70mm
    • 1600萬像素高分辨率CCD探測器,配備光纖面板,以確保長使用壽命和重建質量和精度
    • 快速重構軟件InstaRecon,重構1K*1K切片僅需0.02S.重構容積14456*14456*2610像素:10h (1PC)  VS 19h (8GPU Cluster)
    • 系統自帶軟件包括2D/3D圖像定量分析軟件和支持面渲染和體渲染的3D可視化軟件,以及手機APP
    • 可選16位自動進樣器

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    ?隔熱陶瓷孔隙結構特征分析

     

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