原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化，這對探討實際電池安全性產生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段；
科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析；分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測

項目

細則

收費

說明

Rocking Curve

單一圖譜，30min 以內；若超 過 30min，延長時間按240元 /30min計，不足30min 按 30min計； 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀，厚 度≤1mm，直徑≤2cm

240元/樣

1.長時間數據手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價格需面議；

2.原位測試需提供測試方法

2Theta/Omega Scan

對稱掃描單一圖譜，30min 以 內；掃描時間大于 30min，延 長時間按240元/30min，不足 30min 按 30min 計

240元/樣

2Theta/Omega Scan

不對稱掃描單一圖譜，30min 以內；掃描時間大于 30min， 延長時間按 240元/30min計，不足 30min 按 30min 計

300元/樣

Skew Scan

不對稱掃描單一圖譜，30min 以內；掃描時間大于 30min， 延長時間按 240 元/30min計，不足 30min 按 30min 計

300元/樣

XRR

單一圖譜，30min 以內；掃描 時間大于 30min，延長時間按240 元 /30min計，不足30min 按 30min 計

300元/樣

GID

單一圖譜，30min 以內；掃描 時間大于 30min，延長時間按240 元 /30min計，不足30min 按 30min 計

300元/樣

Phi Scan

Phi 掃描單一圖譜，30min 以 內；掃描時間大于30min，延長時間按 240元/30min計，不足 30min 按 30min 計

300元/樣

RSM

單點倒易空間 mapping 單一圖譜，30min 以內；掃描時間 大于 30min，延長時間按240元/30min計，不足30min 按 30min 計

400元/樣

低溫測試

包含 2 個溫度點，第二點后， 240 元/ 測試點；低溫測試液氮另加30元/時

900元/樣